ICP-MS 已經(jīng)成為檢測和表征溶液中納米顆粒的首選技術(shù)。與其他技術(shù)相比，ICP-MS 的獨(dú)特之處在于它能夠在一次快速分析中提供有關(guān)納米顆粒大小、粒度分布、元素組成以及數(shù)量濃度的信息。

此外，只有 ICP-MS才能同步測定樣品中溶解態(tài)分析物的濃度。ICP-MS可在兩種不同模式下使用：在單顆粒模式下表征單個顆粒， 或者與場流分離或毛細(xì)管電泳等分離技術(shù)聯(lián)用以表征大批量樣品。這兩種技術(shù)各有優(yōu)劣，但是配合使用時卻能優(yōu)勢互補(bǔ)。

納米顆粒屬于微觀顆粒，既可以天然存在，也可以 人工制造（工程制造），其尺寸范圍為10-9m 至10-7m，形狀任意 (IUPAC)。工程制造的納米顆粒在提高半導(dǎo)體材料到食品、藥品、化妝品以及消費(fèi)品等各類產(chǎn)品的性能或性質(zhì)方面的使用正在迅速增加。由于這些材料具有新穎的物理和化學(xué)特性，其環(huán)境宿命和毒理學(xué)性質(zhì)的許多細(xì)節(jié)都依然未知。因此，亟需一種快速、準(zhǔn)確且靈敏的技術(shù)，用于表征 和定量各種類型樣品中的納米顆粒。

ICP-MS 最近實現(xiàn)的一些針對特定應(yīng)用的硬件和軟件增強(qiáng)功能表 明它能夠滿足這些要求。ICP-MS 在檢測、表征和定量分析納米顆粒方面的主要優(yōu)勢體現(xiàn)在它的高靈敏度和特異性，與動態(tài)光散射檢測等其他技術(shù)相比，ICP-MS 可提供更多信息。此外，與掃描電鏡或透射電子顯微鏡（SEM、 TEM）、原子力顯微鏡 (AFM) 等技術(shù)或差速離心等 分離技術(shù)相比，ICP-MS分析速度更快，而且?guī)缀醪恍枰獦悠非疤幚怼?nbsp;

但是，ICP-MS 分析納米顆粒本身也存在一些特有挑戰(zhàn)。使用ICP-MS 檢測表征納米顆�？赏ㄟ^兩種不同的方法來實現(xiàn)，每種方法均有自身的優(yōu)勢和挑戰(zhàn)。